Reliability analysis of 0.5µm CMOS operational amplifiers under TID effects

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Texto completo (inglês) (634.6Kb)

Data

2014

Autor

Cardoso, Guilherme Schwanke

Balen, Tiago Roberto

Lubaszewski, Marcelo Soares

Gonçalez, Odair Lelis

Tipo

Artigo de periódico

URI

http://hdl.handle.net/10183/262420

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Assunto

Amplificadores operacionais

Circuitos integrados

Efeitos da radiação

Contido em

Journal of integrated circuits and systems. Vol. 9, n. 1(2014), p. 70-79

Origem

Nacional

Coleções

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