Reliability analysis of 0.5µm CMOS operational amplifiers under TID effects

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Fecha
2014
Autor
Tipo
URI
http://hdl.handle.net/10183/262420
Materia
En
Journal of integrated circuits and systems. Vol. 9, n. 1(2014), p. 70-79
Origen
Nacional
Colecciones
 
   

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