Análise da influência da temperatura no auto-teste de circuitos analógicos : método baseado em osciladores

Thumbnail
Visualizar/abrir
Data
2000
Autor
Tipo
URI
http://hdl.handle.net/10183/81733
Evento
Salão de iniciação Científica (12. : 2000 set. 11-15 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Assunto
Grande Área
Engenharias
Contido em
Salão de Iniciação Científica (12. : 2000 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2000.
Sessão
Engenharia Elétrica I
Coleções
 
   

Este item está licenciado na Creative Commons License