Análise da influência da temperatura no auto-teste de circuitos analógicos : método baseado em osciladores

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Fecha
2000
Autor
Tipo
URI
http://hdl.handle.net/10183/81733
Evento
Salão de iniciação Científica (12. : 2000 set. 11-15 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Materia
Grande Área
Engineering
En
Salão de Iniciação Científica (12. : 2000 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2000.
Sesión
Engenharia Elétrica I
Colecciones
 
   

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