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dc.contributor.authorToson, Fabianopt_BR
dc.contributor.authorCota, Erika Fernandespt_BR
dc.contributor.authorCarro, Luigipt_BR
dc.contributor.authorLubaszewski, Marcelo Soarespt_BR
dc.date.accessioned2013-12-03T01:48:27Zpt_BR
dc.date.issued2000pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/81733pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (12. : 2000 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2000.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectEngenharia elétricapt_BR
dc.titleAnálise da influência da temperatura no auto-teste de circuitos analógicos : método baseado em osciladorespt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de iniciação Científica (12. : 2000 set. 11-15 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.identifier.nrb000299919pt_BR
dc.subject.sessionEngenharia Elétrica Ipt_BR
dc.subject.cnpqEngenhariaspt_BR
dc.description.number025pt_BR
dc.type.originNacionalpt_BR


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