Análise da influência da temperatura no auto-teste de circuitos analógicos : método baseado em osciladores

dc.contributor.author	Toson, Fabiano	pt_BR
dc.contributor.author	Cota, Erika Fernandes	pt_BR
dc.contributor.author	Carro, Luigi	pt_BR
dc.contributor.author	Lubaszewski, Marcelo Soares	pt_BR
dc.date.accessioned	2013-12-03T01:48:27Z	pt_BR
dc.date.issued	2000	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/81733	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.relation.ispartof	Salão de Iniciação Científica (12. : 2000 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2000.	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.subject	Engenharia elétrica	pt_BR
dc.title	Análise da influência da temperatura no auto-teste de circuitos analógicos : método baseado em osciladores	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de iniciação Científica (12. : 2000 set. 11-15 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.identifier.nrb	000299919	pt_BR
dc.subject.session	Engenharia Elétrica I	pt_BR
dc.subject.cnpq	Engenharias	pt_BR
dc.description.number	025	pt_BR
dc.type.origin	Nacional	pt_BR

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