Navegação Engenharia Elétrica por Assunto "Bias Temperature Instability"
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Metodologia determinística para simulação elétrica do impacto de BTI em circuitos MOS
(2017) [Dissertação]Aborda-se, nesse trabalho, o fenômeno de envelhecimento de transistores MOS por bias temperature instability (BTI), relevante fator de degradação da confiabilidade e de redução do tempo de vida de circuitos integrados CMOS. ...