Navegação Engenharia Elétrica por Autor "Both, Thiago Hanna"
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Análise dos efeitos de dose total ionizante em transistores CMOS tecnologia 0,35 μm
Both, Thiago Hanna (2013) [Dissertação]Este trabalho apresenta um estudo sobre a degradação de parâmetros elétricos de transistores CMOS tecnologia 0,35 μm, fabricados com o processo AMS C35B4, devido aos efeitos de dose total ionizante. Os efeitos de dose total ...