Determinação dos parâmetros de deposição de filmes de HfO2 sobre Si depositados por sputtering
Data
2011Autor
Orientador
Evento
Salão de Iniciação Científica (23. : 2011 out. 3-7 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Tipo de apresentação
Apresentação oralGrande Área
Ciências exatas e da terra
Sessão
Tópicos gerais
Temática
Processamento e análise de materiais
Coleções
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