• Caracterização elétrica de estruturas metal/dielétrico high-k/Si 

      Palmieri, Rodrigo (2005) [Dissertação]
      Foram estudadas as propriedades elétricas de estruturas MOS envolvendo materiais com Zr e Hf: Al/HfO2/Si, Al/HfAlO/Si, Al/ZrO2/Si e Al/ZrAlO/Si depositadas por JVD (Jet Vapor Deposition) submetidas a diferentes doses de ...
    • Os efeitos de fluxos de prótons sobre dispositivos MOS no espaço 

      Parizotto, Rodrigo (2003) [Dissertação]
      Dispositivos microeletrônicos como células solares e circuitos integrados MOS em satélites, estão sujeitos ao bombardeamento de partículas de alta energia, especialmente os uxos de prótons. Os danos causados pela irradiação ...