Navegação Física por Autor "Ávila, Tiago Silva de"
Resultados 1-1 de 1
-
Uso da técnica de cartografia-MEIS para a determinação da deformação no parâmetro de rede em filmes finos
Ávila, Tiago Silva de (2016) [Tese]A caracterização do strain (deformação) em estruturas cristalinas em filmes finos semicondutores apresenta importantes aplicações tecnológicas, como por exemplo: a formação de defeitos, modificação da estrutura das bandas ...