• Leakage current modeling in sub-micrometer CMOS complex gates 

      Butzen, Paulo Francisco (2007) [Dissertação]
      Para manter o desempenho a uma tensão de alimentação reduzida, a tensão de threshold e as dimensões dos transistores têm sido reduzidas por décadas. A miniaturização do transistor para tecnologias sub-100nm resulta em um ...