Show simple item record

dc.contributor.advisorRech, Paolopt_BR
dc.contributor.authorLibano, Fabiano Pereirapt_BR
dc.date.accessioned2018-10-09T02:33:34Zpt_BR
dc.date.issued2018pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/183140pt_BR
dc.description.abstractNeural networks are becoming an attractive solution for automatizing vehicles in the automotive, military, and aerospace markets. All of these applications are safety-critical and, thus, must have reliability as one of the main constraints. Thanks to their low-cost, low power-consumption, and flexibility, Field-Programmable Gate Arrays (FPGAs) are among the most promising devices to implement neural networks. Unfortunately, FPGAs are also known to be susceptible to faults induced by ionizing particles. In this work, we evaluate the effects of radiation-induced errors in the outputs of two neural networks (Iris Flower and MNIST), implemented in SRAM-based FPGAs. In particular, through accelerated neutron beam experiments, we notice that radiation can induce errors that modify the output of the network with or without affecting the neural network’s functionality. We call the former critical errors and the latter tolerable errors. We explore aspects of the neural networks that can have impacts on both performance and reliability, such as levels of data precision and different methods of implementation for some types of layers. Through exhaustive fault-injection campaigns, we identify the portions of Iris Flower and MNIST implementations on FPGAs that are more likely, once corrupted, to generate a critical or a tolerable error. Based on this analysis, we propose Algorithm-Based Fault Tolerance (ABFT) strategies for certain layers in the networks, as well as a selective hardening strategy that triplicates only the most vulnerable layers of the neural network. We validate these hardening approaches with neutron radiation testing, and see that our selective hardening solutionen
dc.description.abstractRedes neurais estão se tornando soluções atrativas para a automação de veículos nos mercados automotivo, militar e aeroespacial. Todas essas aplicações são de segurança crítica e, portanto, precisam ter a confiabilidade como um dos principais requisitos. Graças ao baixo custo, baixo consumo de energia, e flexibilidade, FPGAs estão entre os dispositivos mais promissores para implementar redes neurais. Entretanto, FPGAs também são conhecidas por sua susceptibilidade à falhas induzidas por partículas ionizadas. Neste trabalho, nós avaliamos os efeitos de erros induzios por radiação nas saídas de duas redes neurais (Iris Flower e MNIST), implementadas em FPGAs baseadas em SRAM. Em particular, via experimentos com feixe acelerado de nêutrons, nós percebemos que a radiação pode induzir erros que modificam a saída da rede afetando ou não a corretude funcional da mesma. Chamamos o primeiro caso de erro crítico e o segundo de error tolerável. Nós exploramos aspectos das redes neurais que podem impactar tanto seu desempenho quanto sua confiabilidade, tais como os níveis de precisão na representação dos dados e diferentes métodos de implementação de alguns tipos de camadas. Usando campanhas exaustivas de injeção de falhas, nós identificamos porções das implementações da Iris Flower e da MNIST em FPGAs que são mais prováveis de gerar erros critícos ou toleráveis, quando corrompidas. Baseado nessa análise, nós propusemos estratégias de ABFT para algumas camadas das redes, bem como uma estratégia de proteção seletiva que triplica somente as camadas mais vulneráveis das redes neurais. Nós validamos essas estratégias de proteção usando testes de radiação com nêutrons, a vemos que nossa solução de proteção seletiva conseguiu mascarar 68% das falhas na Iris Flower com um custo adicional de 45%, e 40% das falhas na MNIST com um custo adicional de 8%.pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.language.isoengpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectReliabilityen
dc.subjectInteligência artificialpt_BR
dc.subjectSafety-Critical Applicationsen
dc.subjectRedes neuraispt_BR
dc.subjectArtificial Intelligenceen
dc.subjectFpgapt_BR
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.subjectFPGAsen
dc.subjectNeural Networksen
dc.titleReliability analysis of neural networks in FPGAspt_BR
dc.title.alternativeAnálise de confiabilidade de redes neurais em FPGAs pt
dc.typeDissertaçãopt_BR
dc.identifier.nrb001077538pt_BR
dc.degree.grantorUniversidade Federal do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.degree.departmentInstituto de Informáticapt_BR
dc.degree.programPrograma de Pós-Graduação em Microeletrônicapt_BR
dc.degree.localPorto Alegre, BR-RSpt_BR
dc.degree.date2018pt_BR
dc.degree.levelmestradopt_BR


Files in this item

Thumbnail
   

This item is licensed under a Creative Commons License

Show simple item record