Navegação Microeletrônica por Assunto "Yield"
Resultados 1-2 de 2
-
CMOS digital integrated circuit design faced to NBTI and other nanometric effects
(2010) [Dissertação]Esta dissertação explora os desafios agravados pela miniaturização da tecnologia na fabricação e projeto de circuitos integrados digitais. Os efeitos físicos do regime nanométrico reduzem o rendimento da produção e encurtam ... -
Modeling and simulation of device variability and reliability at the electrical level
(2011) [Tese]O efeito das variações intrínsecas afetando parâmetros elétricos de circuitos fabricados com tecnologia CMOS de escala nanométrica apresenta novos desafios para o yield de circuitos integrados. Este trabalho apresenta ...
