Navegação Microeletrônica por Assunto "SPICE"
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Reliability evaluation of finFET-based SRAMs in the presence of resistive defects
(2021) [Tese]The development of Fin Field Effect Transistor (FinFET) has made possible the continuous scaling-down of Complementary Metal-Oxide-Semiconductor (CMOS) technology, overcoming issues caused by the Short-Channel Effects. In ... -
Síntese automática do leiaute de redes de transistores
(2014) [Tese]Fluxo de síntese física baseado em standard cells tem sido utilizado na indústria e academia já há um longo período de tempo. Esta técnica é conhecida por ser bastante confiável e previsível uma vez que a mesma biblioteca ...