Listar Microelectrónica por tema "SEE"
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Efeitos da radiação ionizante e técnicas de proteção aplicadas a projetos de dispositivos MOS customizados
(2015) [Tesis de maestría]Os efeitos produzidos pela interação da radiação ionizante com os circuitos integrados podem ser classificados em efeitos de eventos únicos (Single Event Effects - SEE), comumente relacionados a problemas transientes, e ...