Navegação Microeletrônica por Assunto "Performance variability"
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An estimation method for gate delay variability in nanometer CMOS technology
(2010) [Tese]No regime em nanoescala da tecnologia VLSI, o desempenho dos circuitos é cada vez mais afetado pelos fenômenos de variabilidade, tais como variações de parâmetros de processo, ruído da fonte de alimentação, ruído de ...