Listar Microelectrónica por tema "Monte Carlo Method"
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Modeling and simulation of device variability and reliability at the electrical level
(2011) [Tesis]O efeito das variações intrínsecas afetando parâmetros elétricos de circuitos fabricados com tecnologia CMOS de escala nanométrica apresenta novos desafios para o yield de circuitos integrados. Este trabalho apresenta ...