Navegação Microeletrônica por Assunto "Modeling"
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Aging aware design techniques and CMOS gate degradation estimative
(2012) [Tese]O advento da utilização de circuitos integrados pela sociedade se deu por dois motivos. O primeiro consiste na miniaturização das dimensões dos dispositivos integrados. Essa miniaturização permitiu a construção de dispositivos ... -
Early soft error reliability assessment of convolutional neural networks executing on resource-constrained IoT edge devices
(2022) [Tese]Machine learning (ML) algorithms have provided straightforward solutions to a wide range of applications. The high computational demand of such algorithms limits their adoption in resource-constrained devices, which typically ... -
Modelamento do single-Event effiects em circuitos de memória FDSOI
(2016) [Dissertação]Este trabalho mostra a comparação dos efeitos das falhas provocadas pelos Single-Event Effects em dispositivos 28nm FDSOI, 28nm FDSOI High-K e 32nm Bulk CMOS e células de memória 6T SRAM feitas com estes dispositivos. Para ...