Navegação Microeletrônica por Assunto "Bias Temperature Instability"
Resultados 1-1 de 1
-
Análise automatizada dos efeitos do alargamento de pulso induzido em single event transients
(2017) [Dissertação]Aplicações em ambientes expostos a elevados níveis de radiação ionizante impõem uma série de desafios ao desenvolvimento de projetos de circuitos integrados na tecnologia Complementary Metal–Oxide–Semiconductor (CMOS), uma ...