Navegação Microeletrônica por Assunto "2D simulation"

Resultados 1-1 de 1

    • Modelamento do single-Event effiects em circuitos de memória FDSOI 

      Bartra, Walter Enrique Calienes (2016) [Dissertação]
      Este trabalho mostra a comparação dos efeitos das falhas provocadas pelos Single-Event Effects em dispositivos 28nm FDSOI, 28nm FDSOI High-K e 32nm Bulk CMOS e células de memória 6T SRAM feitas com estes dispositivos. Para ...