Browsing Microelectronics by Author "Ost, Luciano Copello"
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Avaliação do impacto de flags de compilação na ocorrência e propagação de soft errors em sistemas multiprocessados Baseados em NoC
(2020) [Dissertation]A confiabilidade de sistemas é uma métrica essencial para os projetos de sistemas embarcados multiprocessados em larga escala. Os projetistas devem identificar a suscetibilidade a soft error de várias aplicações no início ... -
Early evaluation of multicore systems soft error reliability using virtual platforms
(2018) [Thesis]The increasing computing capacity of multicore components like processors and graphics processing unit (GPUs) offer new opportunities for embedded and high-performance computing (HPC) domains. The progressively growing ...
