Browsing Microelectronics by Subject "Deeply scaled transistors"
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Circuito on-chip para a caracterização em alta escala do efeito de Bias Temperature Instability
(2016) [Dissertation]O trabalho propõe um circuito para caracterização estatística do fenômeno Bias Temperature Instability (BTI). O circuito tem como base uma matriz de transistores para caracterização eficiente em larga escala de BTI. O ...