An Automatic technique for optimizing reed-solomon codes to improve fault tolerance in memories

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Texto completo (inglês) (123.4Kb)

Data

2005

Autor

Neuberger, Gustavo 

Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima 

Reis, Ricardo Augusto da Luz 

Tipo

Artigo de periódico

URI

http://hdl.handle.net/10183/27598

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Assunto

Circuitos integrados

Microeletrônica

Tolerancia : Falhas

Contido em

IEEE design and test of computers. California. Vol. 22, n.1 (Jan./Feb. 2005), p.50-58

Origem

Estrangeiro

Coleções

• Artigos de Periódicos (42138)
  Ciências Exatas e da Terra (6312)

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