• Análise do impacto de NBTI e RTS em células SRAM e portas lógicas 

      Camargo, Vinícius Valduga de Almeida (2009) [Trabalho de conclusão de graduação]
      Este trabalho tem por objetivo analisar o impacto causado no atraso de propagação de portas lógicas e a probabilidade de falhas em células de memória estáticas de acesso aleatório (SRAM) devido a Negative Bias Temperature ...