Online TOF-SIMS : novas implementações para análise de degradação de materiais

Abstract

O presente trabalho consiste na implementação de um novo modo de aquisição de dados para um dos sistemas de espectrometria do Laboratório de Implantação Iônica - UFRGS, a técnica de ToF-SIMS. Esse sistema permite o monitoramento da corrente na amostra ao longo de todo o experimento, o que acaba por trazer informações da quantidade de íons que está incidindo na amostra por área. Assim, as curvas de degradação para o material em estudo podem ser obtidas através desse sistema, e sua análise feita a partir dos códigos desenvolvidos com finalidade de automatizar o processo, pois o número de espectros necessários para uma curva de degradação é grande. Por fim, foi obtida a seção de choque de degradação para o policloreto de vinila e para o poliestireno e uma suposição a respeito da definição dos compostos de fragmentação a partir de sua seção de choque específica.

The present work consists in the implementation of a new data acquisition system for one of the spectrometry systems of the Laborat´orio de Implanta¸c˜ao Iˆonica - UFRGS, the ToF-SIMS technique. This system allows the monitoring of the current in the sample throughout the experiment, which ultimately provides information on the amount of ions that is affecting the sample per area. Thus, the degradation curves for the material under study can be obtained through this system and its analysis made from the codes developed in order to automate the process, since the number of spectra required for a degradation curve is very large. Finally, the degradation cross section for polyvinyl chloride and polystyrene was obtained and an assumption regarding the definition of fragmentation compounds from their specific cross section was made.