Investigação das propriedades de adsorção de espumas nanométricas de InSb

Abstract

Este trabalho tem por objetivo a investigação das propriedades de adsorção de espumas nanométricas de InSb, através da caracterização química de superfície e estrutural das espumas para futuramente serem expostas a diferentes tipos de gases. Neste trabalho são apresentados os métodos de fabricação de espumas nanométricas de InSb e a caracterização química de superfície e estrutural das espumas para o desenvolvimento de sensores. Espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios-X (XPS) foi utilizado para investigar as componentes químicas presentes na superfície do material. Análises de XPS foram feitas em padrões de In, Sb, InSb e seus óxidos para identificar quais componentes estão presentes na superfície das espumas de InSb produzidas por irradiação iônica. Diferentes filmes de InSb foram levados ao forno para simular condições de detecção a altas temperaturas. Análises de difração de raios X com ângulo rasante (GIXRD) e espectrometria de retroespalhamento Rutherford (RBS) foram feitas para averiguar a integridade cristalina e porosa, respectivamente, das amostras. Amostras de espumas nanométricas de InSb foram preparadas seguindo protocolo previamente determinado. Essas amostras serão posteriormente utilizadas para análise do poder de adsorção de diferentes tipos de gases pelas espumas nanométricas de InSb.

The aim of this work is to investigate the adsorption properties of InSb nanofoams, through the surface chemical composition and structural characterization of the foams to be exposed to different types of gases in the future. This work presents the methods of manufacturing InSb nanofoams and the surface chemical composition and structural characterization for the development of sensors. X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) was used to investigate the chemical components present on the surface of the material. XPS analyzes were performed on In, Sb, InSb standards and their oxides to identify which components are present on the surface of the InSb foams produced by ion irradiation. Different InSb films were annealed to simulate detection conditions at high temperatures. Analysis of Grasing Incidence X-Ray Diffraction (GIXRD) and Rutherford Backscattering Spectroscopy (RBS) were performed to ascertain the crystalline and porous integrity, respectively, of the samples after annealing. Samples of InSb nanofoams were prepared following a protocol previously established. These samples will then be used to analyze the adsorption capacity of different types of gases by the InSb nanofoams.