Análise da criticalidade de erros causados por radiação em dispositivos paralelos

dc.contributor.advisor	Rech, Paolo	pt_BR
dc.contributor.author	Netto, Vinícius Fratin	pt_BR
dc.date.accessioned	2017-03-20T10:47:45Z	pt_BR
dc.date.issued	2016	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/154208	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.title	Análise da criticalidade de erros causados por radiação em dispositivos paralelos	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de Iniciação Científica (28. : 2016 set. 12-16 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.subject.session	Processamento paralelo e distribuído	pt_BR
dc.subject.theme	Processamento paralelo e distribuído	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências exatas e da terra	pt_BR
dc.type.presentation	Apresentação oral	pt_BR
dc.description.number	5	pt_BR
dc.identifier.sic	47199	pt_BR
dc.subject.macro	Informática	pt_BR

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