Mostrar el registro sencillo del ítem
Análise da criticalidade de erros causados por radiação em dispositivos paralelos
dc.contributor.advisor | Rech, Paolo | pt_BR |
dc.contributor.author | Netto, Vinícius Fratin | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2017-03-20T10:47:45Z | pt_BR |
dc.date.issued | 2016 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/154208 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.title | Análise da criticalidade de erros causados por radiação em dispositivos paralelos | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Salão de Iniciação Científica (28. : 2016 set. 12-16 : UFRGS, Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.subject.session | Processamento paralelo e distribuído | pt_BR |
dc.subject.theme | Processamento paralelo e distribuído | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Ciências exatas e da terra | pt_BR |
dc.type.presentation | Apresentação oral | pt_BR |
dc.description.number | 5 | pt_BR |
dc.identifier.sic | 47199 | pt_BR |
dc.subject.macro | Informática | pt_BR |
Ficheros en el ítem
Este ítem está licenciado en la Creative Commons License
![](/themes/Mirage2Novo//images/lume/cc.png)