Navegação Engenharias por Assunto "Yield"
Resultados 1-3 de 3
-
CMOS digital integrated circuit design faced to NBTI and other nanometric effects
(2010) [Dissertação]Esta dissertação explora os desafios agravados pela miniaturização da tecnologia na fabricação e projeto de circuitos integrados digitais. Os efeitos físicos do regime nanométrico reduzem o rendimento da produção e encurtam ... -
Modeling and simulation of device variability and reliability at the electrical level
(2011) [Tese]O efeito das variações intrínsecas afetando parâmetros elétricos de circuitos fabricados com tecnologia CMOS de escala nanométrica apresenta novos desafios para o yield de circuitos integrados. Este trabalho apresenta ... -
Three different techniques to cope with radiation effects and component variability in future technologies
(2007) [Tese]Existe um consenso de que os transistores CMOS irão em breve ultrapassar a barreira nanométrica, permitindo a inclusão de um enorme número desses componentes em uma simples pastilha de silício, mais ainda do que a grande ...
