Método para diagnóstico de falhas com testador adaptativo
dc.contributor.author | Hoffmann, Mateus | pt_BR |
dc.contributor.author | Schneider, Rafael Zandoná | pt_BR |
dc.contributor.author | Pereira, Rodrigo Otávio Martins | pt_BR |
dc.contributor.author | Cota, Erika Fernandes | pt_BR |
dc.contributor.author | Lubaszewski, Marcelo Soares | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2014-04-05T01:54:39Z | pt_BR |
dc.date.issued | 1998 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/90413 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.relation.ispartof | Salão de Iniciação Científica (10. : 1998 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 1998. | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.subject | Microeletrônica | pt_BR |
dc.title | Método para diagnóstico de falhas com testador adaptativo | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Salão de Iniciação Científica (10. : 1998 set. 19-23 : UFRGS, Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.identifier.nrb | 000238310 | pt_BR |
dc.subject.session | Elétrica I | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Engenharias | pt_BR |
dc.description.number | 061 | pt_BR |
dc.type.origin | Nacional | pt_BR |
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