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dc.contributor.authorHoffmann, Mateuspt_BR
dc.contributor.authorSchneider, Rafael Zandonápt_BR
dc.contributor.authorPereira, Rodrigo Otávio Martinspt_BR
dc.contributor.authorCota, Erika Fernandespt_BR
dc.contributor.authorLubaszewski, Marcelo Soarespt_BR
dc.date.accessioned2014-04-05T01:54:39Zpt_BR
dc.date.issued1998pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/90413pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (10. : 1998 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 1998.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.titleMétodo para diagnóstico de falhas com testador adaptativopt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de Iniciação Científica (10. : 1998 set. 19-23 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.identifier.nrb000238310pt_BR
dc.subject.sessionElétrica Ipt_BR
dc.subject.cnpqEngenhariaspt_BR
dc.description.number061pt_BR
dc.type.originNacionalpt_BR


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