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dc.contributor.authorLudwig, Jaime L.pt_BR
dc.contributor.authorKuklinski, Félix A.S.pt_BR
dc.contributor.authorSouza, Joel Pereira dept_BR
dc.contributor.authorBehar, Monipt_BR
dc.contributor.authorGrande, Pedro Luispt_BR
dc.date.accessioned2014-01-21T01:51:15Zpt_BR
dc.date.issued1999pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/86267pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (11. : 1999 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 1999.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectFísicapt_BR
dc.titleCaracterização das propriedades físicas e elétricas de heteroestrutura SiO/sub 2/Ge/Sipt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de iniciação Científica (11. : 1999 out. 25-29 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.identifier.nrb000281503pt_BR
dc.subject.sessionNovos Materiais IIpt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.description.number155pt_BR
dc.type.originNacionalpt_BR


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