Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA
dc.contributor.author | Silva Junior, Agenor Hentz da | pt_BR |
dc.contributor.author | Campos, Cristiani Silveira | pt_BR |
dc.contributor.author | Soares, Marcos Roberto Farias | pt_BR |
dc.contributor.author | Vasconcellos, Marcos Antonio Zen | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2013-10-17T01:49:46Z | pt_BR |
dc.date.issued | 2000 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/79396 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.relation.ispartof | Salão de Iniciação Científica (12. : 2000 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2000. | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.subject | Física | pt_BR |
dc.title | Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Salão de iniciação Científica (12. : 2000 set. 11-15 : UFRGS, Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.identifier.nrb | 000280568 | pt_BR |
dc.subject.session | Implementação Iônica | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Ciências exatas e da terra | pt_BR |
dc.description.number | 255 | pt_BR |
dc.type.origin | Nacional | pt_BR |
Este item está licenciado na Creative Commons License
-
Anais e Trabalhos de Eventos (42602)Ciências Exatas e da Terra (5191)