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dc.contributor.authorSilva Junior, Agenor Hentz dapt_BR
dc.contributor.authorCampos, Cristiani Silveirapt_BR
dc.contributor.authorSoares, Marcos Roberto Fariaspt_BR
dc.contributor.authorVasconcellos, Marcos Antonio Zenpt_BR
dc.date.accessioned2013-10-17T01:49:46Zpt_BR
dc.date.issued2000pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/79396pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (12. : 2000 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2000.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectFísicapt_BR
dc.titleDeterminação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMApt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de iniciação Científica (12. : 2000 set. 11-15 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.identifier.nrb000280568pt_BR
dc.subject.sessionImplementação Iônicapt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.description.number255pt_BR
dc.type.originNacionalpt_BR


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