Estudo de retroespalhamento Rutherford em camadas de SiO/sub 2/ implantados com Ge e Si

dc.contributor.advisor	Zawislak, Fernando Claudio	pt_BR
dc.contributor.author	Kremer, Felipe	pt_BR
dc.contributor.author	Lopes, João Marcelo Jordão	pt_BR
dc.date.accessioned	2012-11-29T01:39:47Z	pt_BR
dc.date.issued	2004	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/61544	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.relation.ispartof	Salão de Iniciação Científica (16. : 2004 : Porto Alegre) . Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2004.	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.subject	Física	pt_BR
dc.title	Estudo de retroespalhamento Rutherford em camadas de SiO/sub 2/ implantados com Ge e Si	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de iniciação Científica (16. : 2004 out. 25-29 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.identifier.nrb	000540984	pt_BR
dc.subject.session	Implantação Iônica e Análise Elementar	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências exatas e da terra	pt_BR
dc.description.number	035	pt_BR
dc.type.origin	Nacional	pt_BR

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