Estudo estrutural por microscopia eletrônica de transmissão (TEM) de amostras semicondutoras de arseneto de gálio (GAAS) implantadas com érbio

dc.contributor.advisor	Maltez, Rogério Luis	pt_BR
dc.contributor.author	Oliveira, Roana Melina de	pt_BR
dc.date.accessioned	2012-11-28T01:39:29Z	pt_BR
dc.date.issued	2004	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/61509	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf	pt_BR
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.relation.ispartof	Salão de Iniciação Científica (16. : 2004 : Porto Alegre) . Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2004.	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.subject	Física	pt_BR
dc.title	Estudo estrutural por microscopia eletrônica de transmissão (TEM) de amostras semicondutoras de arseneto de gálio (GAAS) implantadas com érbio	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de iniciação Científica (16. : 2004 out. 25-29 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.identifier.nrb	000528900	pt_BR
dc.subject.session	Implantação Iônica e Análise Elementar	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências exatas e da terra	pt_BR
dc.description.number	027	pt_BR
dc.type.origin	Nacional	pt_BR

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