Escalonamento de testes em uma rede intra-chip para teste de sistemas em silício

dc.contributor.advisor	Lubaszewski, Marcelo Soares	pt_BR
dc.contributor.author	Erigson, Marcelo Ienczczak	pt_BR
dc.date.accessioned	2012-11-22T01:40:56Z	pt_BR
dc.date.issued	2004	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/61229	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.relation.ispartof	Salão de Iniciação Científica (16. : 2004 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2004.	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.subject	Microeletrônica	pt_BR
dc.title	Escalonamento de testes em uma rede intra-chip para teste de sistemas em silício	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de iniciação Científica (16. : 2004 out. 25-29 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.identifier.nrb	000454834	pt_BR
dc.subject.session	Engenharia Elétrica e Computação B	pt_BR
dc.subject.cnpq	Engenharias	pt_BR
dc.description.number	268	pt_BR
dc.type.origin	Nacional	pt_BR

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