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dc.contributor.authorMenegotto, Thiagopt_BR
dc.contributor.authorGeshev, Julian Penkovpt_BR
dc.contributor.authorMorrone, Angelo Ribeiropt_BR
dc.contributor.authorDriemeier, Carlos Eduardopt_BR
dc.contributor.authorNagamine, Luiz Carlos Camargo Mirandapt_BR
dc.contributor.authorSchmidt, Joao Edgarpt_BR
dc.date.accessioned2012-10-11T01:36:07Zpt_BR
dc.date.issued2002pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/56312pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (14. : 2002 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2002.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectFísicapt_BR
dc.titleEstudo do efeito de 'exchange bias' em filmes finos de NiO/NiFept_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de iniciação Científica (14. : 2002 dez. 2-6 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.identifier.nrb000348015pt_BR
dc.subject.sessionFísica VIpt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.description.number281pt_BR
dc.type.originNacionalpt_BR


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