Técnica Polarimétrica Espectral como ferramenta complementar à Elipsometria de filmes dielétricos

Thumbnail
View/Open
Date
2011
Author
Advisor
Type
URI
http://hdl.handle.net/10183/46885
Event
Salão de Iniciação Científica (23. : 2011 out. 3-7 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Subject
Presentation type
Apresentação oral
Knowledge area
Exact and earth sciences
Session
Tópicos gerais
Theme
Processamento e análise de materiais
Collections
 
   

This item is licensed under a Creative Commons License