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dc.contributor.advisorKastensmidt, Fernanda Gusmão de Limapt_BR
dc.contributor.authorAlmeida, João Paullo Vieira dept_BR
dc.contributor.authorConcatto, Caroline Martinspt_BR
dc.date.accessioned2012-05-15T17:52:58Zpt_BR
dc.date.issued2009pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/43372pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2009.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.titleMecanismo de tolerância a falhas em redes intra-chippt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.subject.sessionMicroeletrônicapt_BR
dc.subject.themeMicroeletrônicapt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.type.presentationApresentação oralpt_BR
dc.description.number9pt_BR
dc.identifier.sic3022pt_BR
dc.subject.macroInformáticapt_BR


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