Medida elétrica de defeitos eletricamente ativos na interface SiC/SiO/sub 2/

dc.contributor.advisor	Boudinov, Henri Ivanov	pt_BR
dc.contributor.author	Contini, André Carlos	pt_BR
dc.contributor.author	Palmieri, Rodrigo	pt_BR
dc.contributor.author	Radtke, Claudio	pt_BR
dc.date.accessioned	2012-01-10T01:19:55Z	pt_BR
dc.date.issued	2006	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/36159	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf	pt_BR
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.relation.ispartof	Salão de Iniciação Científica (18. : 2006 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2006.	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.subject	Física	pt_BR
dc.title	Medida elétrica de defeitos eletricamente ativos na interface SiC/SiO/sub 2/	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de iniciação Científica (18. : 2006 out. 15-20 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.identifier.nrb	000568679	pt_BR
dc.subject.session	Propriedades Físicas de Materiais A	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências exatas e da terra	pt_BR
dc.description.number	273	pt_BR
dc.type.origin	Nacional	pt_BR

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