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dc.contributor.advisorBoudinov, Henri Ivanovpt_BR
dc.contributor.authorContini, André Carlospt_BR
dc.contributor.authorPalmieri, Rodrigopt_BR
dc.contributor.authorRadtke, Claudiopt_BR
dc.date.accessioned2012-01-10T01:19:55Zpt_BR
dc.date.issued2006pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/36159pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (18. : 2006 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2006.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectFísicapt_BR
dc.titleMedida elétrica de defeitos eletricamente ativos na interface SiC/SiO/sub 2/pt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de iniciação Científica (18. : 2006 out. 15-20 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.identifier.nrb000568679pt_BR
dc.subject.sessionPropriedades Físicas de Materiais Apt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.description.number273pt_BR
dc.type.originNacionalpt_BR


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