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dc.contributor.advisorMaltez, Rogerio Luizpt_BR
dc.contributor.authorPretto, Marcelo Zenpt_BR
dc.date.accessioned2023-07-04T14:27:25Zpt_BR
dc.date.issued2022pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/261592pt_BR
dc.format.mimetypevideo/mp4pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.titleMigração de C para a interface SiO2/Si: regimes de longo e de curto alcance de difusãopt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de Iniciação Científica (34. : 2022 set. 26-30 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.subject.themeProcessamento e análise de materiaispt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.type.presentationApresentação oralpt_BR
dc.identifier.sic78021pt_BR
dc.subject.macroFísicapt_BR


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