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Impacto da variabilidade de processo e das falhas transientes em diferentes arranjos de transistores
(2018) [Trabalho de conclusão de graduação]Devido às limitações físicas encontradas nos dispositivos MOSFET, foi necessário introduzir a tecnologia FinFET para dar continuidade ao dimensionamento tecnológico abaixo de 22nm. A evolução no processo de fabricação dos ...