Navegação por Assunto "Raios X : Difração"
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Environment of hafnium and silicon in Hf-based dielectric films : an atomistic study by x-ray absorption spectroscopy and x-ray diffraction
(2005) [Artigo de periódico]The atomic structure of HfSiO and HfSiON was investigated before and after thermal annealing using x-ray diffraction and x-ray absorption spectroscopy. In HfSiO, the Hf atoms are arranged in a monoclinic HfO2 structure ... -
Estudo experimental de processos termodinamicos irreversiveis em polimeros semicristalinos deformados
(1995) [Dissertação]A deformação plástica de polímeros semicristalinos na região situada entre suas Tg (temperatura de transição vítrea) e T m (temperatura de fusão cristalina), modifica suas propriedades termodinâmicas e morfológicas produzindo ...
