Mostrar registro simples

dc.contributor.advisorLubaszewski, Marcelo Soarespt_BR
dc.contributor.authorCassol, Leandro Josépt_BR
dc.date.accessioned2017-06-06T02:28:14Zpt_BR
dc.date.issued2002pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/159206pt_BR
dc.description.abstractO presente trabalho tem como objetivo a avaliação do controle interno do teste em sistemas baseados em núcleos de hardware. No intuito de analisar os problemas e as exigências do teste em SOCs, alguns sistemas são aqui criados utilizando-se a descrição VHDL de um controlador de teste, alguns circuitos benchmarks e uma descrição de um microcontrolador 8051 auto-testável. Problemas referentes ao controle de diferentes estratégias de teste (extemo, scan, BIST, etc) são abordados e formas de resolver estes problemas são descritas. Também abordam-se problemas referentes ao teste em nível de sistema, como por exemplo, requisitos de memória e conexões. Mudanças são sugeridas e implementadas no controlador de teste, a fim de melhorar seu desempenho e flexibilizar seu uso em diversas circunstâncias distintas em termos de requisitos de estratégias de teste.pt_BR
dc.description.abstractThis work aims at evaluating the internai test control in core-based systems. In order to analyze problems and requirements of testing core-based systems, some systems are herein built making use of a VHDL description of a test controller, of some benchmark circuits and of a description of a self-testing 8051 microcontroller. Problems related to controlling different test strategies (externai testing, scan, BIST, etc) are covered and ways ofsolving those problems are described. Problems related to the system levei testing, such as memory and connection requirements, are also discussed. Changes are proposed and implemented into the test controller, in order to enhance its performance and make its use more flexible to face many different situations in terms o f required test strategies.en
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectControlador de testept_BR
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.titleTeste de sistemas integrados utilizando controladores específicospt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR
dc.identifier.nrb000339629pt_BR
dc.degree.grantorUniversidade Federal do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.degree.departmentEscola de Engenhariapt_BR
dc.degree.programPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapt_BR
dc.degree.localPorto Alegre, BR-RSpt_BR
dc.degree.date2002pt_BR
dc.degree.levelmestradopt_BR


Thumbnail
   

Este item está licenciado na Creative Commons License

Mostrar registro simples