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dc.contributor.authorRadtke, Claudiopt_BR
dc.contributor.authorKrug, Cristianopt_BR
dc.contributor.authorAndrade, Jones dept_BR
dc.contributor.authorStedile, Fernanda Chiarellopt_BR
dc.contributor.authorSalgado, Tania Denise Miskinispt_BR
dc.contributor.authorBaumvol, Israel Jacob Rabinpt_BR
dc.date.accessioned2014-03-12T01:49:55Zpt_BR
dc.date.issued1998pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/88298pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (10. : 1998 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 1998.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectFilmes finos dieletricospt_BR
dc.subjectOxinitreto de siliciopt_BR
dc.subjectFísica experimentalpt_BR
dc.titleEstudo físico-químico da estrutura óxido/nitreto/óxidopt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de Iniciação Científica (10. : 1998 set. 19-23 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.identifier.nrb000223985pt_BR
dc.subject.sessionFísica Experimental Ipt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.description.number013pt_BR
dc.type.originNacionalpt_BR


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