Listar Microelectrónica por autor "Silva, Maurício Banaszeski da"
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Circuito on-chip para a caracterização em alta escala do efeito de Bias Temperature Instability
Silva, Maurício Banaszeski da (2016) [Tesis de maestría]O trabalho propõe um circuito para caracterização estatística do fenômeno Bias Temperature Instability (BTI). O circuito tem como base uma matriz de transistores para caracterização eficiente em larga escala de BTI. O ... -
A physics-based statistical random telegraph noise model
Silva, Maurício Banaszeski da (2016) [Tesis]Low Frequency Noise (LFN) and Random Telegraph Noise (RTN) are performance limiters in many analog and digital circuits. For small area devices, the noise power spectral density can easily vary by many orders of magnitude, ...