Listar Microelectrónica por autor "Balen, Tiago Roberto"
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Análise de variabilidade e desempenho em transistores ELT para aplicações analógicas
Platcheck, Gustavo Paz (2022) [Tesis de maestría]Este trabalho estuda os impactos no desempenho elétrico e na variabilidade de transistores MOSFETs projetados utilizando a técnica de geometria fechada (do inglês “Enclosed Layout Transistor” – ELT), uma técnica de proteção ... -
Avaliação de aspectos de projeto analógico usando enclosed layout transistors em tecnologia CMOS
Cardoso, Guilherme Schwanke (2018) [Tesis]Este trabalho estuda o fluxo de projeto analógico com ferramentas de EDA (Electronic Design Automation) comerciais, adotando técnicas de proteção em nível de layout (RHBD – do inglês - Radiation Hardened-By-Design) através ... -
Avaliação de conversores AD sob efeitos de radiação e mitigação utilizando redundância com diversidade
Aguilera, Carlos Julio González (2018) [Tesis de maestría]Este trabalho aborda um sistema de aquisição de dados (SAD) analógico-digital, baseado em um esquema redundante com diversidade de projeto, que é testado em dois ambientes diferentes de radiação. O primeiro experimento ... -
Desenvolvimento de um sistema em chip de processamento online para manutenção inteligente
Piccoli, Leonardo Bisch (2018) [Tesis]Estratégias de monitoramento, baseadas na análise da condição de equipamentos utilizando ferramentas de processamento digital de sinais, inteligência artificial e tolerância a falhas, tornam-se cada vez mais necessárias ... -
Geração automática de padrões para teste estrutural de circuitos analógicos
Zilch, Lucas Bernardo (2021) [Tesis de maestría]Os vultuosos incrementos de complexidade e de funcionalidade que os circuitos eletrônicos atuais apresentam em relação aos seus antecessores deram-se através da miniaturização dos componentes. Essa redução das dimensões ... -
Reliability evaluation of finFET-based SRAMs in the presence of resistive defects
Copetti, Thiago Santos (2021) [Tesis]The development of Fin Field Effect Transistor (FinFET) has made possible the continuous scaling-down of Complementary Metal-Oxide-Semiconductor (CMOS) technology, overcoming issues caused by the Short-Channel Effects. In ... -
Study and application of direct RF power injection methodology and mitigation of electromagnetic interference in ADCs
Boeira, Fernando Jardim (2020) [Tesis de maestría]There are many publications available in literature regarding the DPI (Direct Power Injection) technique for electronic systems, but few works specifically addressed for mixed-signal converters, which are components existent ... -
Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização
Bender, Isis Duarte (2015) [Tesis de maestría]Este trabalho apresenta estudos voltados ao teste de Amplificadores Diferenciais. No primeiro momento, por meio de simulações SPICE, falhas catastróficas são injetadas em dois Amplificadores Diferenciais, projetados para ...