Browsing Microelectronics by Subject "TCAD"

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    • Evaluating the impact of charge traps on MOSFETs and ciruits 

      Camargo, Vinícius Valduga de Almeida (2016) [Thesis]
      Nesta tese são apresentados estudos do impacto de armadilhas no desempenho elétrico de MOSFETs em nível de circuito e um simulador Ensamble Monte Carlo (EMC) é apresentado visando a análise do impacto de armadilhas em nível ...

    • Reliability evaluation of finFET-based SRAMs in the presence of resistive defects 

      Copetti, Thiago Santos (2021) [Thesis]
      The development of Fin Field Effect Transistor (FinFET) has made possible the continuous scaling-down of Complementary Metal-Oxide-Semiconductor (CMOS) technology, overcoming issues caused by the Short-Channel Effects. In ...