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Medição remota das características elétricas de dispositivos semicondutores

dc.contributor.authorDarde, Pablo Rodrigopt_BR
dc.contributor.authorLisbôa, Cléo Pagnopt_BR
dc.contributor.authorGomes, Daniel C.pt_BR
dc.contributor.authorCunha, Silvio Luiz Souzapt_BR
dc.contributor.authorLisboa, Jorge Amorettipt_BR
dc.contributor.authorBetz, Michel Emile Marcelpt_BR
dc.date.accessioned2012-10-09T01:37:22Zpt_BR
dc.date.issued2002pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/56204pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (14. : 2002 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2002.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectFísicapt_BR
dc.titleMedição remota das características elétricas de dispositivos semicondutorespt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de iniciação Científica (14. : 2002 dez. 2-6 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.identifier.nrb000347543pt_BR
dc.subject.sessionFísica IIIpt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.description.number102pt_BR
dc.type.originNacionalpt_BR


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000347543.pdf
Size:
10.15Kb
Format:
PDF
Description:
Resumo
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