O impacto do NBTI na confiabilidade de circuitos aritméticos

dc.contributor.advisor	Wirth, Gilson Inacio	pt_BR
dc.contributor.author	Silva, Maurício Banaszeski da	pt_BR
dc.contributor.author	Camargo, Vinicius Valduga de Almeida	pt_BR
dc.contributor.author	Brusamarello, Lucas	pt_BR
dc.date.accessioned	2012-07-04T10:50:29Z	pt_BR
dc.date.issued	2008	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/50524	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.relation.ispartof	Salão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2008.	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.title	O impacto do NBTI na confiabilidade de circuitos aritméticos	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.subject.session	Microeletrônica	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências exatas e da terra	pt_BR
dc.type.presentation	Apresentação oral	pt_BR
dc.identifier.old-sic	200801561	pt_BR

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