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dc.contributor.advisorWirth, Gilson Inaciopt_BR
dc.contributor.authorSilva, Maurício Banaszeski dapt_BR
dc.contributor.authorCamargo, Vinicius Valduga de Almeidapt_BR
dc.contributor.authorBrusamarello, Lucaspt_BR
dc.date.accessioned2012-07-04T10:50:29Zpt_BR
dc.date.issued2008pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/50524pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2008.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.titleO impacto do NBTI na confiabilidade de circuitos aritméticospt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.subject.sessionMicroeletrônicapt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.type.presentationApresentação oralpt_BR
dc.identifier.old-sic200801561pt_BR


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